법무법인 다래
인용관계를 활용한 특허분석지표에 대하여
- 조회수
- 342
- 작성일
- 2014.10.23
1. 개요
특허 문헌의 질적 수준을 평가하기 위하여 특허 문헌 사이의 인용관계를 활용한 지표를 사용하는 경우가 있다. 인용관계를 활용한 특허분석지표 중 대표적인 것으로 인용도 지수 (Cites Per Patent), 영향력 지수(Patent Impact Index) 및 기술력 지수(Technology Strength) 등이 있다.
특허 문헌의 질적 수준을 평가하기 위하여 특허 문헌 사이의 인용관계를 활용한 지표를 사용하는 경우가 있다. 인용관계를 활용한 특허분석지표 중 대표적인 것으로 인용도 지수 (Cites Per Patent), 영향력 지수(Patent Impact Index) 및 기술력 지수(Technology Strength) 등이 있다.
2. 정의
1 인용도 지수(CPP, Cites Per Patent)
미국등록특허를 대상으로 분석가능하며, 특정 등록특허들이 다른 등록특허들에 의해 인용되는 회수의 평균값으로, 특허권자의 입장에서 이 값이 클수록 질적 수준이 우수한 특허를 보유하고 있을 가능성이 높다는 것을 의미하며, 많이 인용되는 특허를 가진 특허권자는 경쟁에서 유리한위치를 차지할 수 있다.
CPP = 피인용수 / 특허건수
1 인용도 지수(CPP, Cites Per Patent)
미국등록특허를 대상으로 분석가능하며, 특정 등록특허들이 다른 등록특허들에 의해 인용되는 회수의 평균값으로, 특허권자의 입장에서 이 값이 클수록 질적 수준이 우수한 특허를 보유하고 있을 가능성이 높다는 것을 의미하며, 많이 인용되는 특허를 가진 특허권자는 경쟁에서 유리한위치를 차지할 수 있다.
CPP = 피인용수 / 특허건수
2 영향력 지수(Patent Impact Index)
한 시점을 기준으로 삼아 과거의 기술적 활동을 반영하는 지표로서, 특정기술분야의 특정출원인의 피인용비와 전체 피인용비 사이이 비를 의미한다. PII가 1이면 평균 인용 빈도임을 나타내고, 2이면 평균보다 2배 많은 빈도로 인용됨을 나타낸다.
PII = 특정기술 분야의 특정출원인의 피인용비 / 전체 피인용비 3 기술력 지수(Technology Strength)
기술력지수는 영향력지수에 특허건수를 곱한 것으로, 기술력지수가 클수록 해당 국가(또는 연구주체)의 기술력이 높음을 의미한다.
TS =특허건수×영향력지수
한 시점을 기준으로 삼아 과거의 기술적 활동을 반영하는 지표로서, 특정기술분야의 특정출원인의 피인용비와 전체 피인용비 사이이 비를 의미한다. PII가 1이면 평균 인용 빈도임을 나타내고, 2이면 평균보다 2배 많은 빈도로 인용됨을 나타낸다.
PII = 특정기술 분야의 특정출원인의 피인용비 / 전체 피인용비 3 기술력 지수(Technology Strength)
기술력지수는 영향력지수에 특허건수를 곱한 것으로, 기술력지수가 클수록 해당 국가(또는 연구주체)의 기술력이 높음을 의미한다.
TS =특허건수×영향력지수
3. CPP 등의 활용시 주의 사항
CPP에 의해 분석을 진행할 때 아래와 같은 사항을 주의할 필요가 있다. PII 및 TS 관련 주의 사항 역시 CPP의 경우와 거의 유사하다.
CPP에 의해 분석을 진행할 때 아래와 같은 사항을 주의할 필요가 있다. PII 및 TS 관련 주의 사항 역시 CPP의 경우와 거의 유사하다.
1 미국등록특허를 대상으로 함
CPP는 미국등록특허를 대상으로 하고 있고, 유효한 등록 특허들이 다른 등록특허들에 의해 인용되는 회수를 전제하고 있으므로, 미국특허공보에 기재된 레퍼런스 중 외국특허들을 제외한 미국특허들 사이의 인용관계에 의해 분석하는 경우가 일반적이다.
예를 들어 일본특허 JP1(특허권자 일본회사)과 미국특허 US1(특허권자 일본회사)이 서로 동일한 발명으로 패밀리 관계이고, 등록특허 US1이 등록특허 US10(특허권자 미국 회사)에 의해 인용되는 경우 US1은 US10에 의해 인용되어 일본회사가 미국회사에 영향력을 미치는 것으로 분석되나, 미국에 등록되지 않은 일본특허 JP2(특허권자 일본회사)가 등록특허인 US10(특허권자 미국회사)에 의해 인용되어 있다고 하더라도 JP2는 미국등록특허가 아니므로 일본회사가 미국회사에 영향력을 미치지 않는 것으로 분석된다.
CPP는 미국등록특허를 대상으로 하고 있고, 유효한 등록 특허들이 다른 등록특허들에 의해 인용되는 회수를 전제하고 있으므로, 미국특허공보에 기재된 레퍼런스 중 외국특허들을 제외한 미국특허들 사이의 인용관계에 의해 분석하는 경우가 일반적이다.
예를 들어 일본특허 JP1(특허권자 일본회사)과 미국특허 US1(특허권자 일본회사)이 서로 동일한 발명으로 패밀리 관계이고, 등록특허 US1이 등록특허 US10(특허권자 미국 회사)에 의해 인용되는 경우 US1은 US10에 의해 인용되어 일본회사가 미국회사에 영향력을 미치는 것으로 분석되나, 미국에 등록되지 않은 일본특허 JP2(특허권자 일본회사)가 등록특허인 US10(특허권자 미국회사)에 의해 인용되어 있다고 하더라도 JP2는 미국등록특허가 아니므로 일본회사가 미국회사에 영향력을 미치지 않는 것으로 분석된다.
2 노이즈에 의한 인용회수가 포함됨
CPP는 유효한 특정 등록특허들이 다른 등록특허들에 의 해 인용되는 회수를 전제로 하고 있고, 위 “다른 등록특허 들”이 유효한 것임을 요구하지 않는 경우가 일반적이다. 즉 CPP에는 유효 데이터인 분석대상 특허들에 의해 인용된 회수 뿐만 아니라 노이즈 특허에 의해 인용된 회수가 포함되어 있다.
따라서 유효 데이터인 분석대상 특허들 사이의 인용관계만을 분석할 필요가 있는 경우, 전체 인용회수에서 노이즈 에 의한 인용회수를 제거할 필요가 있다.
따라서 유효 데이터인 분석대상 특허들 사이의 인용관계만을 분석할 필요가 있는 경우, 전체 인용회수에서 노이즈 에 의한 인용회수를 제거할 필요가 있다.
3 기준 시점에 주의
CPP를 통해 기술적 영향력을 비교 평가하는 경우에는, 반드시 분석의 기준 시점을 고정시켜 비교하여야 한다. 피인용 회수는 시간의 경과에 따라 증가할 가능성이 높기 때문이다.
예를 들어 2010년까지의 특허데이터를 대상으로 분석을 실시하는 경우 2000년의 CPP와 2002년의 CPP를 단순히 비교하는 것은 곤란하다.
CPP를 통해 기술적 영향력을 비교 평가하는 경우에는, 반드시 분석의 기준 시점을 고정시켜 비교하여야 한다. 피인용 회수는 시간의 경과에 따라 증가할 가능성이 높기 때문이다.
예를 들어 2010년까지의 특허데이터를 대상으로 분석을 실시하는 경우 2000년의 CPP와 2002년의 CPP를 단순히 비교하는 것은 곤란하다.